【日本專家】藉由AI深度學習提升自動光學檢查設備辨識能力

隨著全世界發展，當前產業被迫面臨的棘手課題是，產品已從過去同規格的大量生產，轉向「少量多樣」與「多量多樣」特色模式。唯有透過智能化辨識技術，結合全方位系統觀的自動化與智慧製造規劃，才能設計改善產線製程、品質、監控與回溯問題。但在部分在極高良率的要求下，AOI設備容易因敏感而出現過篩現象，因此產業在需要更智慧化的檢測系統條件下，開始應用AI技術來輔助AOI設備進行後續篩檢的優化，透過視覺辨識技術輔助AOI檢測的後續優化，以提高檢測設備的辨識正確率。

研討會 概要

議題

【日本專家】藉由AI深度學習提升自動光學檢查設備辨識能力

日期

2020年4月10日（星期四） 09：30～16：20

會場

台北市＊實際地點依上課通知為準

參加費用

定價：NTD 4500元

早鳥優惠：NTD 3500元

 (限2020年03月15日前報名，並繳完費用)

聯絡資訊

TEL：0923-282-722 李先生

FAX：(02)5593-3727

E-mail：kevin@next-opto.com

主協辦單位

主辦單位：社團法人台灣電子設備協會

協辦單位：群光數位科技

研討會 議程

09:45~10:45

1. AOI檢測的雲端化與AI化

立達軟體科技李董事長

【休 息】

11:00~12:00

2. AI導入自動光學檢測技術課題與案例

倢恩科技邱研發經理

【午 餐】

13:15～16:20

3. 利用深度學習來建構出自動外觀檢查系統

系統計畫研究所 ISP 事業本部 第2部門 井上 忠治 經理 (日文演講，中文口譯)

     3-1　針對製造業検査工程的課題和期待

     3-2　適用於外観検査的深度學習

     【休 息】

     3-3　架構自動外觀檢查系統的流程

     3-4　未來AOI外觀檢查設備的開發